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研究生: 劉怡君
Liu, Yi-Chun
論文名稱: 在資源受限情況下提升晶圓測試產能之流程改善實務研究:以某晶圓測試廠為例
Process Improvement for Enhancing Wafer Testing Capacity Under Resource Constraints: A Case Study of a Wafer Testing Company
指導教授: 吳建瑋
WU, CHIEN-WEI
口試委員: 陳子立
CHEN, TZU-LI
王姿惠
Zih-Huei Wang
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 工業工程與工程管理學系工程碩士在職專班
工業工程與工程管理學系工程碩士在職專班(eng)
論文出版年: 2025
畢業學年度: 113
語文別: 中文
論文頁數: 67
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2030/08/01 (校內網路)
    全文公開日期 2030/08/01 (校外網路)
    全文公開日期 2030/08/01 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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