研究生: |
劉怡君 Liu, Yi-Chun |
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論文名稱: |
在資源受限情況下提升晶圓測試產能之流程改善實務研究:以某晶圓測試廠為例 Process Improvement for Enhancing Wafer Testing Capacity Under Resource Constraints: A Case Study of a Wafer Testing Company |
指導教授: |
吳建瑋
WU, CHIEN-WEI |
口試委員: |
陳子立
CHEN, TZU-LI 王姿惠 Zih-Huei Wang |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
工學院 - 工業工程與工程管理學系工程碩士在職專班 工業工程與工程管理學系工程碩士在職專班(eng) |
論文出版年: | 2025 |
畢業學年度: | 113 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 67 |
相關次數: | 點閱:10 下載:0 |
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