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| 研究生： |
賴來宏 Lai, Lai-Hung |
|---|---|
| 論文名稱： |
界面缺陷密度的能量分布於高介電常數材料/砷化銦鎵金氧半結構之研究 Energy distribution of interfacial trap density in high κ dielectrics/In0.2Ga0.8As MOS and its impact on MOSFETs performance |
| 指導教授： |
洪銘輝
Hong, Minghwei 郭瑞年 Kwo, Raynien |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 材料科學工程學系 Materials Science and Engineering |
| 論文出版年： | 2010 |
| 畢業學年度： | 98 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 92 |
| 相關次數： | 點閱：60 下載：0 |
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