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| 研究生： |
涂芳煌 TU, FANG HUANG |
|---|---|
| 論文名稱： |
空氣懸浮微粒中矽元素分析方法之探討 Determination of Silicon in Atmospheric Particulate by UV-VIS,XRF and LA-ICP-MS |
| 指導教授： |
王竹方
Wang, Zhu-Fang |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
原子科學院 - 生醫工程與環境科學系 Department of Biomedical Engineering and Environmental Sciences |
| 畢業學年度： | 84 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 68 |
| 中文關鍵詞： | 矽 、懸浮微粒 、空氣汙染 、原子學 、核子學 、科學 |
| 外文關鍵詞： | Silicon, XRF, LA-ICP-MS, Atmospheric Particulate, UV-VIS, ATOMICS, NUCLEAR-SCIENCE, SCIENCE |
| 相關次數： | 點閱：179 下載：0 |
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矽元素在空氣懸浮微粒中被視為汙染物來至土壤及灰塵的主要指標元素，
但是在傳統的分析方法中，由於採樣玻璃纖維濾紙的高背景干擾下，我們
很難以濕式消化法配合光譜儀分析技術來定量懸浮微粒中的矽元素。本研
究發展一配合兩段式高壓分解釜消化方式，以矽鉬酸顯色法及UV-VIS分析
空氣懸浮微粒中矽元素之方法。實驗結果顯示，可以可以有效定量以高流
量採樣器及PM10採樣器所採集的玻璃纖維濾紙樣品中的矽元素。根據實驗
結果矽濃度的含量約佔TSP濃度的9-13%之間，若矽都以二氧化矽的形態存
在於污染物中，則矽的貢獻約佔了 TSP的1/5-1/3之間，對於補強以CMB模
式中污染源的貢獻量，應有助益。但是傳統消化方式，不僅繁雜費時而且
易導入污染及使樣品漏失，所以開發一種固體直測技術實有必要。雷射剝
蝕氣化取樣感應耦合電漿質譜儀(LA-ICP-MS)具有樣品不用前處理、分析
時間快速、可同時做多元素分析等優點。故本研究也探討了以LA-ICP-MS
分析空氣懸浮微粒中矽元素的可行性。根據實驗結果配合本實驗室發展的
標準樣品製作方式，LA-ICP-MS的確可以利用於空氣懸浮微粒樣品中矽元
素的分析。本研究也以XRF、UV-VIS及LA-ICP-MS三種方式分析實際樣品中
矽元素的濃度。結果顯示粗粒徑顆粒中的矽約佔6-20%，而細粒徑顆粒中
矽元素約佔1-2%。
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