簡易檢索 / 詳目顯示

研究生: 謝定寰
Hsieh, Ting-Huan
論文名稱: 應用於先進鰭式電晶體邏輯製程之新型電漿充電損害記錄元件暨電荷分離記錄特性之研究
A Study of New Plasma Induced Damage Recorder and Charge Splitting Characteristic by Advanced FinFET Logic CMOS Technology
指導教授: 金雅琴
King, Ya-Chin
口試委員: 林崇榮
朱文定
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 電子工程研究所
Institute of Electronics Engineering
論文出版年: 2017
畢業學年度: 105
語文別: 中文
論文頁數: 83
相關次數: 點閱:3下載:0
分享至:
查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報

  • 無法下載圖示 全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)
    全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
    QR CODE