研究生: |
謝定寰 Hsieh, Ting-Huan |
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論文名稱: |
應用於先進鰭式電晶體邏輯製程之新型電漿充電損害記錄元件暨電荷分離記錄特性之研究 A Study of New Plasma Induced Damage Recorder and Charge Splitting Characteristic by Advanced FinFET Logic CMOS Technology |
指導教授: |
金雅琴
King, Ya-Chin |
口試委員: |
林崇榮
朱文定 |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
電機資訊學院 - 電子工程研究所 Institute of Electronics Engineering |
論文出版年: | 2017 |
畢業學年度: | 105 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 83 |
相關次數: | 點閱:3 下載:0 |
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