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| 研究生： |
黃柏謙 Huang, Po-Chien |
|---|---|
| 論文名稱： |
4H-SiC MOS 電容在不同閘極氧化層厚度之可靠度評估 Reliability Evaluation of 4H-SiC MOS Capacitor with Different Gate Oxide Thicknesses |
| 指導教授： |
黃智方
Huang, Chih-Fang |
| 口試委員: |
辛裕明
Hsin, Yue-ming 吳添立 Wu, Tian-Li |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電子工程研究所 Institute of Electronics Engineering |
| 論文出版年： | 2021 |
| 畢業學年度： | 109 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 56 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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全文公開日期 2026/10/19 (校內網路)全文公開日期 2026/10/19 (校外網路)