針對連續生產特性發展的抽樣計畫，Dodge (1943) 以單一產品為單位，提出了連續抽樣計畫， Dodge (1956) 更以連續抽樣計畫為延伸，針對『貨批』為單位提出了計數值跳批抽樣計畫，且由Perry (1973) 加以改善並探討計數值跳批抽樣計畫之貨批平均出廠品質公式，有效的在產品品質穩定時，降低抽檢頻率，減少檢驗成本。然而，在現行的半導體產業製程生產環境中，每一個生產站點皆為多產品多機台的生產製程，且其檢驗貨批是否允收的量測機台有其產能限制。因此，本論文主要探討在考慮貨批平均出廠品質之下，並且使用計量值參考計畫之跳批抽樣計畫的制訂，更考慮量測機台有產能限制之實際情況下，跳批抽樣計畫之平均抽樣頻率最佳化的調整，最後將以一實例探討執行跳批抽樣計畫之績效與敏感度分析。

[1] Dodge, H. F. (1943), “A Sampling Plan for Continuous Production,” Annals of Mathematical Statistics, 14 (3), 264-279.
[2] Dodge, H. F. (1956), “Skip-Lot Sampling Plan,” Industrial Quality Control, 11 (5), 3-5.
[3] Dodge, H. F. and Romig, H. G. (1959). Sampling Inspection Tables, Single and Double Sampling (2nd ed.), New York: Wiley.
[4] Duncan A. J. (1986). Quality Control and Industrial Statistics (5th ed.), Homewood IL: Irwin.
[5] Lieberman, G. J., and Resnikoff, G. J. (1955), “Sampling Plan for Inspection by Variables,” Journal of the American Statistical Association, 50, 457-516.
[6] Montgomery, D. C. (2005). Introduction to Statistical Quality Control (5th ed.), New York: Wiley.
[7] Perry, R. L. (1973), “Skip-Lot Sampling Plans,” Journal of Quality Technology, 5 (3), 123-130.