過去數十年來的 IC 測試產業提供 IC上游 -設計、晶圓廠等大量生產的測試服務，形成台灣早期 IC 產業的市場拉力。短交期達交、低成本的測試營運和提供封裝與測試整體服務為主要的競爭優勢。但隨著IC製程的進步，IC在應用設計上愈來愈複雜。過去台灣引以為傲的上下游垂直分工的模式，逐漸有其調整的需求。IC設計人員不能只管IC設計的事，測試人員也無法只是追求大量測試生產。同時在IC產業發展的趨勢下，面臨新產品及早面市、測試成本的壓力和產品品質的要求，IC設計人員和IC測試人員合作的關係愈來愈密切。本論文的結論指出IC 測試必將由過去以量產為主的黑箱服務模式移轉到知識密集的專業服務模式。
主要的內容區分為下列三大類；
探討 IC 設計者對 IC 測試的期望
研究 IC 設計者與 IC 測試合作的模式
探討IC 測試由大量生產到專業測試服務

In the past decades IC testing industries provide testing mass production services for IC front-end, design and wafer manufacturing, which creates market pull in the early stage of Taiwan IC industries. Short delivery cycle time, low cost testing operation and turnkey solution of assembly and testing services is major competitive advantages. Since IC technology development, IC design is more and more complicate. The outstanding model of vertical integration in Taiwan is going to be changed. IC designer cannot only dedicate on design issue; test engineers cannot seek mass production of economic scale either. During the IC development trend, new products face heavy pressure of time-to-market, cost and quality; IC design group and test group have to work more closely. The thesis concludes IC testing will shift away from black-box services of mass production and towards knowledge-intensive professional services.
Three major domains are in the study;
•Explore IC designer’s expectation for IC test group.
•Explore interaction models between IC designer and IC test group.
•Explore the shift of IC testing away from mass production and towards professional services.

參考文獻
一、中文部分
1.楊丁元、陳慧玲，1996，「業競天擇」，台北：工商時報社。
2.楊雅嵐，2003，「台灣封測業發展前景分析」，經濟部科技專案成果，新竹：工業技術研究院產業經濟與資訊服務中心。
3.洪德芳、黃文輝、楊雅嵐，2003，「專業測試及驗證研究一以彩色濾光片憶光板為例」，經濟部科技專案成果，新竹：工業技術研究院產業經濟與資訊服務中心。

二、英文部分
1.Dawson, R., (2000)，Developing knowledge-based client relationships: the future of professional services，New York：Wisdom & Knowledge Publishing Co.
2.Geus, Arie P. de (1988).，“Planning as Learning”，Harvard Business Review， 66 (2), pp70-74.
3.Maister, D.H., (1997)，Managing the Professional Service Firm， New York：Free Press.
4.Peters, T., (1992)，Liberation Management: Necessary Disorganization for the Nanosecond Nineties，New York：Fawcett Columbine.
5.Porter, M.E., (1985)，Competitive Advantage: Creating and Sustaining Performance， New York：Free Press.
6.Brown, J.S., & Duguid, P., (2000)，“Mysteries of the Region, The Silicon Valley Edge：A Habitat for Innovation and Entrepreneurship”, eds., William F. Millar, Chong-Moon Lee, Marguerite Gong Hancock, and Henry S. Rowen，Stanford University Press, pp16-39.
7.Bushnell, M., and Agrawal, V., (2000)，Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits， Norwell, MA：Kluwer.
8.Burns, M., and Roberts, G.W., (2001)，“An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement”，New York：Oxford University Press.
9.Nonaka, I., and Takeuchi, H., (1995)，“The Knowledge-Creating Company”， New York：Oxford University Press.
10.Ochoa, J.A. & Porter, J.R., (2003)，“Semiconductor Test Strategies”，IEEE Instrumentation & Measurement Magazine, March 2003
11.Wheelwright, S.C. and Clark, K.B.(1992)，“Accelerating the Design-Build-Test Cycle for Effective New Product Development”，In Burgelman, R. A., Maidique, M. A., & Wheelwright, S.C. (Eds.)， Strategic Management of Technology and Innovation，pp. 900-910，.New York：McGraw-Hill.

註釋
1.清華大學科管院 林博文 博士對類似以知識交流而產生更進一步的知識，稱之為「知識的融合 (Knowledge Fusion) 」。
2.野中郁次郎和竹內弘高(1995)將高度個人化，不容易表達或難以公式化的知識稱為「隱性」知識；而可以系統化，容易傳播、分享的知識稱為「顯性」知識。
3.新產品開發計劃中計劃成員有﹕計劃主持人、企劃工程師、設計工程師、應用工程師、產品工程師、測試工程師……計劃主持人掌握所有計劃的進度和協調各計劃成員間的支援。計劃主持人的立場屬中立而且計劃完成後，會對各計劃成員的績效加以考核。
4.Winbond對產品計劃的績效有下列3個指標
• 改版的次數≦ 2次 (Delivery)
• 晶圓和測試的成本在目標值內(Cost)
• CPR 準時 (Time-to-Market)

5.Winbond 產品導入時程區分為：CPR (Conditional Pre-Release), Release, Project Pending, 和 Project Close. CPR (Conditional Pre-Release)指產品完成工程驗證(Alpha Test)面臨市場需求及競爭，必須開始小量生產時，可申請CPR，將生產事宜納入生產管制的體系內。
6.平均每位計劃主持人之計劃數3.5件 (147/42)。