簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
孫億龍 Sun, Yi-Long |
|---|---|
| 論文名稱： |
使用DINO-ViT進行缺陷檢測與利用生成資料決定最佳門檻值 Defect Detection using DINO-ViT and Optimal Threshold Determination with Synthetic Data |
| 指導教授： |
胡敏君
Hu, Min-Chun |
| 口試委員: |
朱宏國
Chu, Hung-Kuo 姚智原 Yao, Chih-Yuan 潘則佑 Pan, Tse-Yu |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - AI智慧製造與智慧物聯網碩士班 Industrial Technology Graduate Program of AI Intelligent Manufacturing & Intelligent IoT Production |
| 論文出版年： | 2024 |
| 畢業學年度： | 112 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 38 |
| 相關次數： | 點閱：1 下載：0 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館：臺灣博碩士論文系統)