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研究生： 蔡孟宇
Tsai, Meng Yu
論文名稱： 使用萃智工具與層級分析法改善面板廠Cell Test製程良率與庫存
Apply TRIZ and AHP to Improve Cell Test Yield and Reduce Inventory
指導教授： 邱銘傳
Chiu, Ming Chuan
口試委員: 朱詣尹
Chu, Yee Yeen
翁紹仁
Weng, Shao Jen
學位類別： 碩士
Master
系所名稱： 工學院 - 工業工程與工程管理學系碩士在職專班
Industrial Engineering and Engineering Management
論文出版年： 2016
畢業學年度： 104
語文別： 中文
論文頁數： 69
中文關鍵詞： 萃智 、層級分析法 、面板 、CELL 製程
外文關鍵詞： TRIZ, AHP, TFT-LCD, CELL Process
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    • 依科技業的生產現場生態，生產作業為24小時不斷電不停運作，一旦機台發生異常不止導致產品連續出現大量品質問題外甚至連帶影響工廠的產能使公司在營運上造成莫大的損失，藉此有關生產線上所有狀況都要在第一時間且需迅速處理解決根因，此外庫存是萬惡之源，如何有效降低庫存提升產能是為評估工廠效能的重要指標。此次研究以面板廠Cell Test製程為個案運用萃智系統化手法處理產線相關問題，案例一為解決面板因靜電造成線路炸傷問題，案例二則解決人檢站點庫存量過高等狀況，最後再利用層級分析法選擇最適之方案。研究結果發現萃智工具不但可迅速解決工廠問題外更進一步改善產品良率與產能，再透過選擇最佳方針以避免額外的成本支出為公司整體營運帶來獲利以及提升整體生產效益。

    In high-tech environment, it has to operate for 24 hours, if the machine operation is in abnormal that will not only affect the product quality and factory capacity but also cause damage to company profits. Thus all abnormal conditions should be improved instantly. Besides inventory is the root of all evil, how to reduce inventory is one of the important index in factory. In TFT-LCD Cell Test Process case studies that apply TRIZ theory to find out solutions to improve production issues and then apply AHP to select which is the best solution. As a result, TRIZ not only improve the issue instantly but also increase yield and capacity and AHP can avoid extra expense that enhances company profits and production efficiency.

    摘要 i 目錄 iii 表目錄 v 圖目錄 vi 第一章 緒論 1 1.1 研究背景與動機 1 1.2 研究目的 2 1.3 研究流程 3 第二章 文獻探討 4 2.1 萃智(TRIZ) 4 2.1.1 矛盾矩陣與40發明原則 4 2.1.2 萃智理論應用 7 2.2 TFT LCD製程流程 8 2.3 層級分析法(Analytic Hierarchy Process, AHP) 9 2.3.1 層級分析法應用 9 第三章 研究方法 11 3.1 萃智解題步驟 11 3.2 對照式解法五階段 12 3.3 層級分析法 12 第四章 個案分析 15 4.1 個案一: TFT-LCD面板線路炸傷個案介紹 15 4.1.1 個案一: 問題點與改善 15 4.1.2 技術矛盾分析一:除靜電裝置與揚塵誤判問題 16 4.1.3 技術矛盾分析二:耗材更換與時間花費過多問題 17 4.1.4 技術矛盾分析三:相關防止靜電之零件失效時間點問題 17 4.1.5 技術矛盾分析之結果 20 4.1.6 層級分析法 27 4.1.7 評估準則 27 4.1.8 各方案評比 29 4.1.9 方案實施結果討論 30 4.2 個案二: 人檢站點庫存量過高問題 32 4.2.1 Cell Test Process 32 4.2.2 自動光學檢查（Automated Optical Inspection，簡稱AOI） 33 4.2.3 OCT人檢站點 33 4.2.4 LSR雷射維修點 34 4.2.5 面板座標定義 34 4.2.6 光學建置自動檢測機台面板座標 34 4.2.7 個案二: 問題點與改善 36 4.2.8 技術矛盾分析一:提升亮點座標準確度與前置時間過長問題 37 4.2.9 技術矛盾分析二:改善面板靠位機構提升亮點座標準確度與面板破片問題 37 4.2.10 技術矛盾分析三:人檢站點庫存改善與LSR站點灰塵誤判問題 39 4.2.11 技術矛盾分析之結果 40 4.2.12 層級分析法 45 4.2.13 評估準則 45 4.2.14 各方案評比 47 4.2.15 方案實施結果討論 48 第五章 結論與後續研究方向 51 5.1 結論 51 5.2 研究限制 51 5.3 後續研究方向 52 Reference 54 中文文獻 58 附錄 59 表目錄 表 2.1四十個發明原則 5 表 2.2三十九個工程參數 6 表 2.3簡化後矛盾矩陣 6 表 4.1對照式解法五階段(除靜電裝置與揚塵誤判問題) 17 表 4.2對照式解法五階段(耗材更換與時間花費過多問題) 17 表 4.3對照式解法五階段(相關防止靜電之零件失效時間點問題) 18 表 4.4評估準則權重計算 28 表 4.5隨機指數值 28 表 4.6各方案評比 29 表 4.7對照式解法五階段(提升亮點座標準確度與前置時間過長問題) 37 表4.8 對照式解法五階段(改善面板靠位機構提升亮點座標準確度與面板破片問題) 39 表 4.9對照式解法五階段(人檢站點庫存改善與LSR站點灰塵誤判問題) 39 表 4.10評估準則權重計算 46 表 4.11隨機指數值 46 表 4.12方案評比 47 圖目錄 圖 1.1研究流程圖 3 圖 2.1 TFT-LCD模組結構 8 圖 2.2薄膜電晶體液晶顯示器四大製程圖 9 圖 3.1研究流程 11 圖 4.1改善前:除靜電風扇 20 圖 4.2改善後:棒狀式除靜電器 20 圖 4.3改善後:清潔氣體供應 21 圖 4.4改善前之吹氣頭結構 21 圖 4.5改善後之吹氣頭結構 22 圖 4.6點燈機Stage示意圖 22 圖 4.7點燈機實體圖 23 圖 4.8點燈機邊框鐵氟龍黏貼 23 圖 4.9除靜電裝置連接訊號線於I/O 24 圖 4.10人機介面新增除靜電裝置監控功能 25 圖 4.11面板判片程式新增面板異常監控功能 25 圖 4.12點燈機PU座示意圖 26 圖 4.13點燈機PU座側板示意圖 26 圖 4.14點燈機PU座側板實體圖 27 圖 4.15自動檢測站點面板產出時間 30 圖 4.16改善前產品良率相關資料 31 圖 4.17改善後產品良率相關資料 31 圖 4.18改善前量測準確度相關資料 31 圖 4.19改善後量測準確度相關資料 32 圖 4.20 Cell Test Process流程 33 圖 4.21面板座標 34 圖 4.22定義面板邊界 35 圖 4.23定義面板X座標 35 圖 4.24定義面板Y座標 35 圖 4.25面板座標建置完成 36 圖 4.26機構陰影影響判片準確度 38 圖 4.27面板完整呈現於光學系統 38 圖 4.28 Golden Sample示意圖 41 圖 4.29 Offset調整 41 圖 4.30實驗數據 42 圖 4.31載台機構改造示意圖 42 圖 4.32載台機構改造 43 圖 4.33檢知Sensor警報建立 43 圖 4.34改善後:新增Ground Pattern 44 圖 4.35 L0階調訊號 44 圖 4.36 Ground Pattern階調訊號 45 圖 4.37機台改造費用明細 48 圖 4.38實際上線測試數據 49 圖 4.39方案執行後相關指標 49 圖 4.40人檢站點庫存趨勢圖 50 圖 4.41 LSR站點庫存趨勢圖 50 圖 4.42自動檢測站點產出趨勢圖 50

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