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研究生: 李魁偉
Lee, Kuei-Wei.
論文名稱: 利用YOLO辨識微米發光二極體晶粒基座瑕疵之研究
Study of Defect Detection of Micro Light Emitting Diode Chip Lead Frame Using YOLO
指導教授: 丁川康
Ting, Chung-Kang.
口試委員: 陳穎平
Chen, Ying-Ping.
蔣宗哲
Chiang, Tsung-Che.
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 教務處 - 智慧製造跨院高階主管碩士在職學位學程
AIMS Fellows
論文出版年: 2021
畢業學年度: 109
語文別: 中文
論文頁數: 60
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2026/09/06 (校內網路)
    全文公開日期 2026/09/06 (校外網路)

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