簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
古依純 Ku, I-Chun |
|---|---|
| 論文名稱： |
電荷缺陷儲存式快閃記憶體側向位移之模型分析 Analysis and Modeling of Lateral Migration for Charge Trapping Flash Memory |
| 指導教授： |
連振炘
Lien, Chenhsin 施君興 Shih, Chun-Hsing |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電子工程研究所 Institute of Electronics Engineering |
| 論文出版年： | 2010 |
| 畢業學年度： | 98 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 50 |
| 相關次數： | 點閱：1 下載：0 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館：臺灣博碩士論文系統)