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| 研究生： |
謝孟達 Hsieh, Meng Ta |
|---|---|
| 論文名稱： |
使用加壓測試與支持向量機以縮減晶片系統測試之成本 Cost Reduction of System-level Tests with Stressed Structural Tests and SVM |
| 指導教授： |
劉靖家
Liou, Jing Jia |
| 口試委員: |
陳海力
Chen, Harry 吳誠文 Wu, Cheng Wen 吳尚鴻 Wu, Shan Hung |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 論文出版年： | 2015 |
| 畢業學年度： | 103 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 36 |
| 相關次數： | 點閱：1 下載：0 |
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