目前微磁學為一門重要的研究領域，磁力顯微儀(MFM)具有高解析度(約10nm~100nm) 可觀測磁性材料上細微的磁區分布且操作容易，樣品不需經過特殊處理，且可以適用於各種環境。因此已成為此領域的重要儀器。
本論文是利用磁力顯微儀觀測鈷-鎳-鈷之多層磁性金屬薄膜。樣品成長方式是利用磁控濺鍍系統於矽基板上成長鈷-鎳-鈷之多層膜金屬薄膜；並改變鈷的厚度而得不同樣品。樣品完成後，利用磁力顯微儀觀測樣品之表面影像與磁力影像；再對樣品加強磁場，同樣地，利用磁力顯微儀觀測其表面影像及磁力影像。另外，利用四點量測系統測量樣品之磁阻，對樣品通過垂直或平行磁壁方向之電流，觀察磁阻大小並比較其方向對磁阻之影響。

[1.1] 謝長村,清華大學物理所碩士論文, “磁力顯微儀觀察Co/Si薄膜磁區之研究”(1999)
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[2.5] 謝長村,清華大學物理所碩士論文, “磁力顯微儀觀察Co/Si薄膜磁區之研究”(1999).
[2.6] Soshin Chikazumi著，張煦、李學養合譯, “磁性物理學”,聯經出版事業公司,p238~240
[2.7] Soshin Chikazumi著，張煦、李學養合譯, “磁性物理學”,聯經出版事業公司,p257~260
[2.8] Soshin Chikazumi著，張煦、李學養合譯, “磁性物理學”,聯經出版事業公司,p137~141
[2.9] 吳柏蒼,成功大學物理所碩士論文,“i80Fe20/Ir(111)/Ni80Fe20 三層膜之磊晶成長與磁耦合研究”(2003)
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[2.12] 吳柏蒼,成功大學物理所碩士論文,“i80Fe20/Ir(111)/Ni80Fe20 三層膜之磊晶成長與磁耦合研究”(2003)
[2.11]B.Heinrich J.A.C. Bland, “Ultrathin Magnetic Structures II”,Ch2
[5.1] 劉佳琪,清華大學物理所碩士論文, “磁力電子顯微儀量測鈷鎳薄膜磁區之研究”(2004).
[5.2] Soshin Chikazumi著，張煦、李學養合譯, “磁性物理學”,聯經出版事業公司,p218
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