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| 研究生： |
高子洹 Gao, Zih-Huan |
|---|---|
| 論文名稱： |
電路老化預測之後矽測試流程 Post-silicon Test Flow for Aging Prediction |
| 指導教授： |
劉靖家
Liou, Jing-Jia |
| 口試委員: |
王行健
Wang, Sying-Jyan 黃俊郎 Huang, Jiun-Lang |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 論文出版年： | 2017 |
| 畢業學年度： | 105 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 49 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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