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研究生: 周佩勲
Chou, Pei-Hsun
論文名稱: 以人工神經網路回歸模型評估晶圓級封裝之可靠度
Reliability Assessment of Wafer Level Package using Artificial Neural Network Regression Model
指導教授: 江國寧
Chiang, Kuo-Ning
口試委員: 鄭仙志
袁長安
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 動力機械工程學系
Department of Power Mechanical Engineering
論文出版年: 2019
畢業學年度: 107
語文別: 中文
論文頁數: 106
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