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研究生: 陳麗伃
Li-Yu Chen
論文名稱: 以資料挖礦為基礎之半導體測試性WAT資料分析診斷
A Diagnostic Analysis for the Test Vehicle of Wafer Acceptance Test Base on Data Mining in Semiconductor Manufacturing
指導教授: 陳飛龍
Dr. Fei-Long Chen
口試委員:
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 工業工程與工程管理學系
Department of Industrial Engineering and Engineering Management
論文出版年: 2004
畢業學年度: 92
語文別: 中文
論文頁數: 79
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