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| 研究生： |
潘縉緯 Pan, Chin-Wei |
|---|---|
| 論文名稱： |
虛擬量測架構以推動工業3.5聰明生產與半導體製造之實證研究 A Framework of Virtual Metrology to Empower Industry 3.5 Smart Production and an Empirical Study for Semiconductor Manufacturing |
| 指導教授： |
簡禎富
Chien, Chen-Fu |
| 口試委員: |
李家岩
Lee, Chia-Yen 許嘉裕 Hsu, Chia-Yu |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系 Department of Industrial Engineering and Engineering Management |
| 論文出版年： | 2021 |
| 畢業學年度： | 109 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 39 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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全文公開日期 2026/06/21 (校內網路)全文公開日期 2026/06/21 (校外網路)