研究生: |
蔡俊琳 Chun-Lin Tsai |
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論文名稱: |
深次微米氮化矽間隙壁及超薄氧化層輕摻雜汲極N型金氧半電晶體熱載子退化行為之研究 Study on Hot Carrier Degradation in Deep Sub-Micron Nitride Spacer and Ultra-Thin oxide |
指導教授: |
龔正
Jeng Gong |
口試委員: | |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
電機資訊學院 - 電子工程研究所 Institute of Electronics Engineering |
論文出版年: | 2002 |
畢業學年度: | 90 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 106 |
相關次數: | 點閱:2 下載:0 |
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