簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
李衍函 Lee, Yen-Han |
|---|---|
| 論文名稱： |
整合基於圖形內容的檢索與深度學習於晶圓圖模式分類之方法 Integrate Content-Based Image Retrieval and Deep Learning to Improve Wafer Map Defect Patterns Classification |
| 指導教授： |
邱銘傳
Chiu, Ming-Chuan |
| 口試委員: |
許嘉裕
Hsu, Chia-Yu 劉建良 Liu, Chien-Liang |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系 Department of Industrial Engineering and Engineering Management |
| 論文出版年： | 2020 |
| 畢業學年度： | 108 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 49 |
| 相關次數： | 點閱：3 下載：0 |
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