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| 研究生： |
方治緯 Fang, Chih-Wei |
|---|---|
| 論文名稱： |
創新新穎半導體晶圓在線即時瑕疵檢測—以晶圓分割技術為基礎之瑕疵檢測系統 Innovative in-line Wafer Defect Inspection System Based on Wafer Segmentation Using Special Image Processing Techniques. |
| 指導教授： |
洪世章
Hung, Shih-Chang |
| 口試委員: |
胡美智
Hu, Mei-Chih 陳宗權 Chen, Tzong-Chyuan 曾詠青 Tseng, Yung-Ching |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
科技管理學院 - 經營管理碩士在職專班 Business Administration |
| 論文出版年： | 2023 |
| 畢業學年度： | 111 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 40 |
| 相關次數： | 點閱：3 下載：0 |
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全文公開日期 2028/06/17 (校內網路)全文公開日期 2028/06/17 (校外網路)