簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
葉俊呈 Chun Chen Yeh |
|---|---|
| 論文名稱： |
高密度電漿對次微米電晶體可靠度損害評估 Reliability Assessment of High Density Plasma Charging Induced Damage on Submicron MOSFETs |
| 指導教授： |
張廖貴術
Kuei-Shu Chang-Liao |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
原子科學院 - 工程與系統科學系 Department of Engineering and System Science |
| 畢業學年度： | 87 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 101 |
| 相關次數： | 點閱：3 下載：0 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館：臺灣博碩士論文系統)