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研究生: 劉佳甄
chia chen Liu
論文名稱: 高氣壓微波電漿源之研究
A microwave plasma source operated at high pressure
指導教授: 寇崇善
chwung shan Kou
口試委員:
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 理學院 - 物理學系
Department of Physics
論文出版年: 2004
畢業學年度: 92
語文別: 中文
論文頁數: 54
中文關鍵詞: 微波電漿高氣壓
外文關鍵詞: microwave, plasma, high pressure
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  • 高氣壓微波電漿通常被應用在UV光源、水或空氣清淨的臭氧生成、以及鑽石薄膜與奈米碳管的成長方面。在高氣壓下,微波與電漿交換能量的機制,即藉助相當之粒子碰撞作用,來達到電磁波能量耦合效果的歐姆加熱。
    本實驗裝置為一小型圓柱共振腔,我們使用WR340波導管導入2.45GHz微波源,並期望以TM012模態,在底部電場場強處激發電漿,以產生均勻對稱且高密度之電漿。在量測電漿的工具方面,利用Langmuir probe量測電漿參數,並輔以OES量測光譜頻帶之分佈,判別工作氣體之電子能階躍遷特性及電漿加熱機制之效率。我們使用工作氣體為Ar,將氣壓控制在2 Torr~53 Torr左右,觀察在高氣壓下,微波電漿的電漿特性、分佈情況和相關之物理現象。我們發現,本實驗為弱解離電漿,在氣壓2torr~13torr區間時,真空區的電漿分佈最均勻,且電漿密度可達1012cm-3。


    Chapter 1 簡介 1.1 高氣壓微波電漿之原理………………………………………1 1.1.2高氣壓微波電漿之應用………………………………2 1.2 電漿源設計理念………………………………………………2 1.3 研究目的………………………………………………………3 Chapter 2 實驗安排 2.1 空腔共振器……………………………………………………4 2.2 理論模擬………………………………………………………4 2.3 系統架構……………………………………………………10 2.4 高氣壓微波電漿源裝置……………………………………11 2.5 共振腔內的模式確認………………………………………13 Chapter 3 實驗量測系統 3.1 Langmuir Probe 理論………………………………………16 3.1.1 Langmuir Probe 結構……………………………17 3.1.2 Langmuir Probe 問題……………………………19 3.1.3 探針控制系統………………………………………20 3.2 I-V curve的分析……………………………………………20 3.2.1 電漿參數的計算……………………………………21 3.2.2 EEDF的比較…………………………………………25 3.3 光譜儀量測系統……………………………………………25 Chapter 4 實驗結果與討論 4.1 電漿整體性質………………………………………………27 4.2 氣體流量大小對電漿的影響………………………………28 4.3 電漿密度隨氣壓的變化……………………………………28 4.3.1 電漿密度隨功率的變化……………………………31 4.4 電漿溫度隨氣壓的變化……………………………………32 4.4.1 電漿溫度隨功率的變化……………………………34 4.5 電漿密度隨位置的變化……………………………………36 4.5.1 電漿密度沿著中央軸的縱向分佈…………………37 4.5.2 電漿密度的φ角分佈………………………………40 4.5.3 電漿密度的橫向分佈………………………………43 4.6 OES (optical emission spectroscopy)量測……………48 Chapter 5 結論 5.1 結論……………………………………………………………52 Reference………………………………………………………………53

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