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| 研究生： |
卓妤庭 Cho, Yu-Ting |
|---|---|
| 論文名稱： |
統計穩健之自動化缺陷檢驗機制-應用於碳化矽半導體晶片 An Automatic and Statistical Robust Defect Detection Framework for Silicon Carbride Wafers |
| 指導教授： |
桑慧敏
Song, Whey-Ming |
| 口試委員: |
楊朝龍
Yang, Chao-Lung 遲銘璋 Chih, Ming-Chang |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系 Department of Industrial Engineering and Engineering Management |
| 論文出版年： | 2021 |
| 畢業學年度： | 109 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 34 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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全文公開日期 2026/08/28 (校內網路)全文公開日期 2026/08/28 (校外網路)