簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
張國郎 Chang, Long |
|---|---|
| 論文名稱： |
金氧半元件超薄閘極氧化層可靠性之研究 A Study on Reliability of Ultrathin Gate oxide for MOS devices |
| 指導教授： |
李雅明
Joseph Ya-min Lee |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 畢業學年度： | 85 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 90 |
| 相關次數： | 點閱：1 下載：0 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館：臺灣博碩士論文系統)