我們利用移動向量以及移動估測的設計，使得CMOS影像感測器的感測陣列擺脫動態隨機瑕疵的困境．近年來的數篇相關論文的發表，但增加面積增加了成本的考量，以及無法區分因電路雜訊產生的瑕疵或本來不為瑕疵的自然亮點(第三章的實驗)，而將它們一併消除，我們則傾向於如何有效率的改善畫面品質，在不增加太大面積的情況下，亦能改善偵錯效能，在最後一篇章節我們做了一些實驗有效將亮點暗點消除.
第一章 簡介
隨著製程的革新，使得CMOS影像感測器的感測陣列正面臨著動態隨機瑕疵的考驗．近年來，已有數篇相關論文的發表，但增加的面積的同時卻也增加了成本，有些簡單的偵錯電路設計此時應運而生．但目前的這些電路設計，無法區分因電路雜訊產生的瑕疵或本來不為瑕疵的自然亮點，而將它們一併消除，如何有效率的改善畫面品質，在不增加太大面積的情況下，亦能改善偵錯效能，便是CMOS影像感測器的重要課題．因此我們的目標,即為做出一個符合此需求的感測器.
第二章 背景知識
在這一章節中,我們將帶大家介紹目前所使用的影像感測器的內部構造.及前人的努力所做出的架構.搭配上我們的CMOS Image Sensor做出應用.
第三章 兩種修正理論
目前節省面積的設計，及其他可能出現的嘗試，做一個分析整理．
在面積不過分增加的情況下，達到合乎效能偵錯達到標準的能力．
但實驗結果為這些理論的大自然亮點也跟著消除了.
第四章 移動修正理論
在本章節中,我們利用移動向量以及移動估測來達成修正拍照圖像的方法.再此也詳細說明移動估測的細部各單元如何構成以及如何操作.
它包含了四個細部單元,在面積不過分增加的情況下，達到合乎效能偵錯達到標準的能力,即辨識大自然亮點的能力.
第五章 實驗結果
我們利用移動向量以及移動估測的設計，使得CMOS影像感測器的感測陣列擺脫動態隨機瑕疵的困境．近年來的數篇相關論文的發表，但增加面積增加了成本的考量，以及無法區分因電路雜訊產生的瑕疵或本來不為瑕疵的自然亮點(第三章的實驗)，而將它們一併消除，我們則傾向於如何有效率的改善畫面品質，在不增加太大面積的情況下，亦能改善偵錯效能，在最後一篇章節我們做了一些實驗有效將亮點暗點消除.
第六章 結論
最後我們利用移動向量以及移動估測的設計，使得CMOS影像感測器的感測陣列可擺脫動態隨機瑕疵的困境並可區分因電路雜訊產生的瑕疵或本來不為瑕疵的自然亮點，我們有效率的改善畫面品質，在不增加太大面積的情況下，亦能改善偵錯效能.

In this thesis we present a self-repair scheme. This feature is using motion estimation and motion compensation. First, user takes two pictures. After that, the scheme will compare with them, get information from former picture and later one. With slight change, the scheme will recognize the relative position from one to another. By statistics, permanent and intermittent faults are separated. We also have some experiments, to test some former designs about the repair scheme of sensor array, put them in Chapter three.

Bibliography

[1] I. Koren, G. Chapman, and Z. Koren, “A Self-Correcting Active Pixel Camera,” proc. Of the 2000 IEEE international Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, November 2000.
[2] Israel Koren, Glenn Chapmen and Zahav a Koren “Advanced Fault-Tolerance Techniques For A Color Digital Camera-On-A-Chip” Proceeding of the 2001 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems.
[3] Bart Dierickx ,Guy Meynants, “Missing pixel correction algorithm for image sensors”, Ieurpopto-SPIE/AFPAEC ,1998
[4] Qun-Fu Lin, Shang-Zhi Ma and Wen-Ji Whang “VLSI Circuit Design of Motion Estimation Unit for Full Search Block-Matching”, Chung-Yuan Christian University , pp. 8-48, 2003.
[5] E. R. Fossum, “CMOS Image Sensors: Electronic Camera-On-A-Chip”, IEEE Transaction on Electron Devices, vol.44, pp. 1689-1698, Oct. 1997.
[6] X.Q. Liu and A. El Gamal, “Simultaneous Image Formation And Motion Blur Restoration Via Multiple Capture,” Proc. of ICASSP Conf., pp. 1841-1844, May 2001.
[7] R. H. Nixon, S. E. Kemeny, B. Pain, C. O. Staller, and E. R. Fossum, “256´256 CMOS Active Pixel Sensor Camera-on-a-Chip”, IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol.31, pp. 2046-2050, December 1996.
[8] S. Mortezapour and E. K. F. Lee, “A 1-V, 8-Bit Successive Approximation ADC in Standard CMOS Process”, IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 35, pp. 642-646, April 2000.
[9] M. Schanz, C. Nitta, A. Busmann, B. Hosticka, and R. Wertheimer, “A High-Dynamic-Range CMOS Image Sensor For Automotive Applications,” IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 35, no. 7, pp. 932-938, July 2000.
[10] O. Yadid-Pecht and E. Fossum, “Wide Intrascene Dynamic Range CMOS APS Using Dual Sampling,” IEEE Trans. Electron. Devices. Vol. 44, pp.1721-1723, Oct 1997.
[11] S. Yang and K. Cho, “High Dynamic Range CMOS Image Sensor With Conditional Reset,” Proc. Of Custom Integrated Circuit Conf, pp. 265-268, 2002.
[12] D. Yang, B. Fowler, and A. El Gamal, “A Nyquist Rate Pixel-Level ADC For CMOS Image Sensors,” IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 34, pp.348-356, Mar 1999.
[13] D. Yang, A. El Gamal, B. Fowler, and H. Tian, “A 640x512 CMOS Image Sensor With Ultra Wide Dynamic Range Floating-Point Pixel-Level ADC,” Proc. of International Solid-State Circuits Conf., pp. 308-309, Feb. 1999.