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| 研究生： |
簡如謙 Chien, Ju-Chien |
|---|---|
| 論文名稱： |
晶圓測試探針卡先進品質控制與實證研究 Advanced Quality Control for Wafer Testing Probe Cards and An Empirical Study |
| 指導教授： |
吳建瑋
Wu, Chien-Wei 陳鴻文 Chen, Hung-Wen |
| 口試委員: |
許嘉裕
Hsu, Chia-Yu 張國浩 Chang, Kuo-Hao |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系 Department of Industrial Engineering and Engineering Management |
| 論文出版年： | 2024 |
| 畢業學年度： | 112 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 51 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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全文公開日期 2029/08/28 (校內網路)全文公開日期 2029/08/28 (校外網路)