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| 研究生： |
陳怡君 Chen, Yi-Jyun |
|---|---|
| 論文名稱： |
應用資料分析構建智慧型良率偵測和診斷分析系統：半導體代工廠之實證研究 Constructing an Intelligent Yield Detect and Diagnostic Analysis system via Data analysis: an Empirical Study of a Semiconductor Foundry |
| 指導教授： |
邱銘傳
Chiu, Ming-Chuan |
| 口試委員: |
張瑞芬
Trappey, Amy J.C. 王志軒 Wang, Chih-Hsuan |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系碩士在職專班 Industrial Engineering and Engineering Management |
| 論文出版年： | 2018 |
| 畢業學年度： | 106 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 85 |
| 相關次數： | 點閱：1 下載：0 |
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