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| 研究生： |
陳彥馨 Chen, Yen Hsin |
|---|---|
| 論文名稱： |
高壓N型通道橫向擴散金氧半場效電晶體元件特性及熱載子導致元件退化之可靠度研究 Characteristics and Hot-Carrier Induced Reliability Degradation in High Voltage N-LDMOS Transistors |
| 指導教授： |
黃智方
Huang, Chih Fang |
| 口試委員: |
龔正
Gong, Jeng 黃宗義 Huang, Tsung Yi |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電子工程研究所 Institute of Electronics Engineering |
| 論文出版年： | 2016 |
| 畢業學年度： | 104 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 72 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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