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研究生: 陳道明
Chen, Tao-Ming
論文名稱: 應用資料增強與基於Mask R-CNN的實例切割方法於晶圓圖混合型態缺陷圖樣分類
Applying Data Augmentation and Mask R-CNN-based Instance Segmentation Method for Mixed-Type Wafer Maps Defect Patterns Classification
指導教授: 邱銘傳
Chiu, Ming-Chuan
口試委員: 許嘉裕
Hsu, Chia-Yu
劉建良
Liu, Chien-Liang
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 工業工程與工程管理學系
Department of Industrial Engineering and Engineering Management
論文出版年: 2021
畢業學年度: 109
語文別: 中文
論文頁數: 50
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2026/07/11 (校內網路)
    全文公開日期 2026/07/11 (校外網路)

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