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| 研究生： |
王膺迪 Wang, Ying-Ti |
|---|---|
| 論文名稱： |
應用田口方法優化晶圓測試探針卡針磨耗之研究 Application of Taguchi Methods for Improving Probe Card Needle Grinding in Wafer Testing |
| 指導教授： |
吳建瑋
Wu, Chien-Wei |
| 口試委員: |
林東盈
巫佳煌 王姿惠 |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系碩士在職專班 Industrial Engineering and Engineering Management |
| 論文出版年： | 2024 |
| 畢業學年度： | 112 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 55 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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全文公開日期 2029/07/30 (校內網路)全文公開日期 2029/07/30 (校外網路)