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研究生: 莊凱晴
Chuang, Kai-Ching
論文名稱: 先進鰭式電晶體三維雙位元通孔電阻式記憶體元件的操作與可靠度模型構建與特性之研究
AStudy of Cell Operation and Reliability Models for 3D Twin-Bit Via RRAM in Advanced FinFET CMOS Technology
指導教授: 林崇榮
Lin, Chrong-Jung
口試委員: 金雅琴
施教仁
池育德
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 電子工程研究所
Institute of Electronics Engineering
論文出版年: 2024
畢業學年度: 113
語文別: 中文
論文頁數: 86
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2029/09/18 (校內網路)
    全文公開日期 2029/09/18 (校外網路)

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