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研究生: 莊博堯
Chuang, Po-Yao
論文名稱: 小晶片間互連結構測試與修復
Chiplet Interconnect Test and Repair
指導教授: 吳誠文
Wu, Cheng-Wen
劉靖家
Liou, Jing-Jia
口試委員: 呂學坤
Lu, Shyue-Kung
黃俊郎
Huang, Jiun-Lang
黃錫瑜
Huang, Shi-Yu
呂仁碩
Liu, Ren-Shuo
學位類別: 博士
Doctor
系所名稱: 電機資訊學院 - 電機工程學系
Department of Electrical Engineering
論文出版年: 2025
畢業學年度: 113
語文別: 英文
論文頁數: 108
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2026/12/31 (校內網路)
    全文公開日期 2026/12/31 (校外網路)

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