研究生: |
林玉卿 Yuh-Ching Lin |
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論文名稱: |
運用分工檢驗作業模式以提升產能---以IC測試為例 Using Division of Labor on Inspection to Improve Production Capacity---A Case of IC Testing |
指導教授: |
朱詣尹
Yee-Yeen Chu |
口試委員: | |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
工學院 - 工業工程與工程管理學系 Department of Industrial Engineering and Engineering Management |
論文出版年: | 2008 |
畢業學年度: | 96 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 89 |
中文關鍵詞: | 分工檢驗 、生產力 、產能 |
外文關鍵詞: | Division of Labor on Inspection, Productivity, Capacity |
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自從1980年以後,我國的IC測試業隨著半導體產業蓬勃發展,也造就許多專業測試廠。隨著IDM業者更專注於核心價值提昇,屬非核心價值之封測業務委外趨勢更加明顯,所以測試廠的產值呈現正成長。隨著產能需求的增加,在有限的檢驗人力下,必須檢視運用分工於品質管制和品質保證,以達到檢驗效率提升及產出增加的績效。
本研究的目的即在探討分工檢驗的作業方式,即每批產品由一位檢驗員只檢驗產品的外觀,而另一位檢驗員檢驗產品的資料。探討此分工檢驗的作業方式,是否可以在有限的人力及產品品質的要求下,達到產品檢驗作業的產出速度加快及產能提升的目的。本研究以增加產出為目的找出系統的限制,再以消除浪費及損失極少化為主要的構思方向,設計出分工檢驗的作業方式以提升產能,最後以案例公司實際執行的結果來驗證分工檢驗的可行性。
本論文利用個案研究探討分工檢驗對產能、出錯率及生產力的影響。研究結果顯示,分工檢驗可以縮短總檢驗時間,即貨批的檢驗作業產出速度加快、產能提升,檢驗的出錯率下降。新進人員透過分工檢驗的實施,檢驗工作學習比舊有的未分工檢驗學習的進步程度高,且對產能的直接貢獻也提升的較快。最後,本研究分析出分工運於半導體業的檢驗及LCD模組業的生產組裝是具績效的,同時對流程改善與運作之成效及分工的優缺點作探討。
中文部份
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