研究生: |
許志維 Chih-Wei Hsu |
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論文名稱: |
應用於超大型積體電路之快速薄介電層可靠性分析研究 An Application of High Speed Thin Dielectrics Reliability Analysis in VLSI |
指導教授: |
徐清祥 博士
Dr. Charles Ching-Hsiang Hsu |
口試委員: | |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
畢業學年度: | 87 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 63 |
相關次數: | 點閱:1 下載:0 |
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