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研究生: 許志維
Chih-Wei Hsu
論文名稱: 應用於超大型積體電路之快速薄介電層可靠性分析研究
An Application of High Speed Thin Dielectrics Reliability Analysis in VLSI
指導教授: 徐清祥 博士
Dr. Charles Ching-Hsiang Hsu
口試委員:
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 電機工程學系
Department of Electrical Engineering
畢業學年度: 87
語文別: 中文
論文頁數: 63
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