研究生: |
邱俊淵 |
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論文名稱: |
監控製程變異數及同時監控製程平均數和變異數的管制圖 |
指導教授: | 黃榮臣 |
口試委員: | |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
理學院 - 統計學研究所 Institute of Statistics |
論文出版年: | 2004 |
畢業學年度: | 92 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 64 |
中文關鍵詞: | 管制圖 、製程變異數 、製程平均數 、測量誤差 |
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在使用管制圖來監控製程時,常會有測量誤差的存在而影響管制圖的偵測能力,在大部分的情況下,測量誤差的存在是會降低管制圖的偵測能力,但是對監控製程變異數的 管制圖,大多數管制界限的取法,在某些情況下會發生含有測量誤差的檢定力比不含測量誤差檢定力大的不合理現象。在本文裡,首先我們比較 管制圖中使用四種管制界限的差異,並討論測量誤差對上述管制圖所產生的影響。此外我們進一步使用上述四種管制界限來建構合併監控製程平均數及變異數的管制圖,並與文中使用概似比檢定得到的另一種混合監控管制圖做比較,同時我們也討論測量誤差對合併監控管制圖及混合監控管制圖的影響。
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