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| 研究生： |
李海明 Hai-Ming Lee |
|---|---|
| 論文名稱： |
具奈米閘極氧化層之電晶體可靠度研究 Functional Reliability Study of MOS Transistors with Nano-Scale Gate Oxides |
| 指導教授： |
徐清祥
Charles Ching-Hsiang Hsu 金雅琴 Ya-Chin King |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
博士 Doctor |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電子工程研究所 Institute of Electronics Engineering |
| 論文出版年： | 2002 |
| 畢業學年度： | 91 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 147 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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