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| 研究生： |
吳曉竹 Wu, Shiao Chu |
|---|---|
| 論文名稱： |
利用橢圓偏光儀決定單層薄膜之光學常數和厚度之研究 Using Ellipsometer to Deside The Optical Constant and Thickness of Single Film |
| 指導教授： |
甘烔耀
Gan Jon Yiew |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 材料科學工程學系 Materials Science and Engineering |
| 畢業學年度： | 81 |
| 語文別： | 中文 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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