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| 研究生： |
劉淑範 Liu, Shu-Fan |
|---|---|
| 論文名稱： |
以工程資料為基礎之晶圓良率特徵值模式架構與 A Diagnostic Analysis for the Yield Characteristic Value Model Based on Engineering Data in Semiconductor Manufacturing |
| 指導教授： | 陳飛龍 |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
博士 Doctor |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系 Department of Industrial Engineering and Engineering Management |
| 畢業學年度： | 92 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 79 |
| 相關次數： | 點閱：1 下載：0 |
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