簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
游家瑀 Yu, Chia Yu |
|---|---|
| 論文名稱： |
鰭式電晶體閘極介電層可靠度之研究 The study of Gate Dielectric Reliabilities of FinFETs |
| 指導教授： |
連振炘
Lien, Chen Hsin |
| 口試委員: |
施君興
陳建亨 |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電子工程研究所 Institute of Electronics Engineering |
| 論文出版年： | 2016 |
| 畢業學年度： | 105 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 64 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)