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研究生: 林佳威
Lin, Jia-Wei
論文名稱: 基於深度卷積神經網路方法下利用注意力機制及資料增強進行晶圓圖缺陷圖案不均衡分類
Wafer Map Defect Pattern Imbalanced Classification Using Attention Mechanism and Data Augmentation Based on Deep Convolutional Neural Network
指導教授: 鐘太郎
Jong, Tai-Lang
口試委員: 黃裕煒
Huang, Yu-Wei
謝奇文
Hsieh, Chi-Wen
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 電機工程學系
Department of Electrical Engineering
論文出版年: 2022
畢業學年度: 110
語文別: 中文
論文頁數: 58
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2027/06/09 (校內網路)
    全文公開日期 2027/06/09 (校外網路)

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