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研究生: 林有為
Lin Yu Wei
論文名稱: 晶片尺寸封裝構裝元件階層可靠度及組裝後可靠度之研究
Component Level Reliability & Board Level Reliability Test for CSP
指導教授: 張一熙
Y.S.Chang
口試委員:
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 材料科學工程學系
Materials Science and Engineering
論文出版年: 2000
畢業學年度: 88
語文別: 中文
論文頁數: 93
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