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研究生: 劉智瑋
Liu, Chih-Wei
論文名稱: 閘極介面工程對鍺互補式金氧半鰭式電晶體電特性研究
Interfacial Layer Engineering in Gate Stack on Electrical Characteristics in Ge CMOS FinFET
指導教授: 張廖貴術
ChangLiao, Kuei-Shu
口試委員: 趙天生
Chao, Tien-Sheng
李耀仁
Lee, Yao-Jen
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 原子科學院 - 工程與系統科學系
Department of Engineering and System Science
論文出版年: 2020
畢業學年度: 109
語文別: 中文
論文頁數: 104
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2025/09/09 (校內網路)
    全文公開日期 2025/09/09 (校外網路)

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