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| 研究生： |
蔡世偉 Shih-wei Tsai |
|---|---|
| 論文名稱： |
利用埋藏式結構之熱載子注入法研究摻氮之超薄氧化層及介面陷阱之產生機構 Study of Oxide and Interface Traps in Ultra-Thin Nitrided Oxide MOSFET Using Hot-Carrier Injection from a Buried Junction Injector |
| 指導教授： |
徐清祥
Charles C.C. Hsu |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 畢業學年度： | 82 |
| 語文別： | 中文 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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