本論文的主要目的在於使用同步輻光源,利用異常繞射精細結構法研究 CdTe/InSb 的單晶薄膜系統。一般在研究材料結構會使用X光吸收光譜,但X光吸收光譜只能針對特定元素,而繞射異常精細結構 DAFS
(Diffraction Anomalous Fine Structure) 的優點在於針對特定元素分析的同時,還結合了繞射的優點,可以選擇不同的晶向 q_r 去測量。

藉著 DAFS 上述的這些特點,本實驗試圖去找出 CdTe 薄膜與 InSb 基底的介面之應力變化。除此之外,由於 CdTe 與 InSb 的晶格常數非常接近,在介面的地方可能會有互相滲透的情形出現。利用在不同 q_r下測量的強度變化,去分析 DAFS 的同時,還會試著去分析兩種晶體於介面的成份變化。

J. O. Cross, Phd. Thesis, (1996) Depart. of Physics, University of Washington.

H. Stragier, J.O. Cross, J.J. Rehr, L.B. Sorensen, C.E. Bouldin and J.C. Woicik, Phys. Rev. Lett. 69, 3064 (1992)

J. J. Rehr and R. C. Albers, Reviews of Modern Physics, vol. 72, No. 3, July 2000

Gwyndaf Evans and Robert F. Pettifer, J. Appl. Cryst. (2001). 34, 82-86.

Gwyndafs Evans, Chooch Calculation of Anomalous Scattering Factors from X-ray fluorescence data.

Yuri P. Stetsko, C.-H. Hsu, Mau-Tsu Tang, Yen-Ru Lee, U. Jeng and K. S. Liang, Composition of self-assembled InGaAs quantum dots fine-resolved by dispersive resonant x-ray diffraction, NSRRC Hsinchu Taiwan.

International tables for X-ray crystallography

R. W. James, The Optical Principles of The Diffraction of X-rays. OX BOW PRESS, Woodbridge, Connecticut, 1982.

S. L. Chang, Special Topics on X-rays Diffraction.

Leonid V. Azaroff, Elements of X-ray Crystallography, McGraw Hill, Inc., 1968.

李彥儒, 2003, 博士論文 清華大學物理所。

翁世璋, 2003, 碩士論文 清華大學物理所。

鄭森源, 2002, 碩士論文 清華大學物理所。