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研究生: 郭宏泰
Kuo, Hung-Tai
論文名稱: 應用精實六標準差於作業流程改善-以半導體WAT測試為例
Application of Lean Six Sigma for Process Improvement - A Case Study of Wafer Acceptance Test
指導教授: 陳建良
Chen, James C.
口試委員: 陳子立
Chen, Tzu-Li
羅明琇
Lo, Sonia M.
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 工業工程與工程管理學系碩士在職專班
Industrial Engineering and Engineering Management
論文出版年: 2017
畢業學年度: 105
語文別: 中文
論文頁數: 77
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