本研究之研究主題為應用能量過濾電子顯微鏡及電子能量損失譜研究生醫及核能材料之特殊問題，其中生醫材料部份之主題為電子能量過濾電鏡於磁振造影顯影劑之應用及電子能量過濾電鏡於相位板之應用，而核能材料部份之主題為電子能量損失譜應用於核能材料氦氣泡密度之量測。

1. S. C. Lo, J. J. Kai, F. R. Chen, L. C. Chen, L. Chang, C. C. Chang, P. J. Ding, B. Chin, H. Zhang and f. S. Chen, J. Electron Microsc., 50, 497(2001).
2. J. Y. Yang, F. R. Chen and J. J. Kai, J. Electron Microsc., 51, 391 (2002).
3. J. S. Tsai, J. J. Kai, L. Chang and F. R. Chen, J. Electron Microsc., 53, 371 (2004).
4. X. Wang, S. H. Hussain and G. P. Krestin, Eur. Radiol., 11, 2319 (2001).
5. E. Snoeck, V. Serin, R. Fourmeaux, Z. Zhang and P. P. Freitas, J. Applied Phys., 96, 3307 (2004).
6. C. Colliex, T. Manoubi and C. Ortiz, Phys. Rev. B, 44, 11402 (1991).
7. P. A. van Aken and B. Liebscher, Phys. Chem. Minerals, 29, 188 (2002).
8. H. Hashimoto, A. Howie, M.J. Whelan, Proc. R. Soc. A, 269, 80 (1962).
9. C. J. Humphreys, P. B. Hirsch, Phil. Mag. 18, 115 (1968).
10. S. H. Huang, W. J. Wang, C. S. Chang, Y. K. Hwu, F. G. Tseng, J. J. Kai and F. R. Chen, J. of Electron Micros. 55, 273 (2006).
11. R. F. Egerton, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, Plenum, New York (1996).
12. L. Reimer (1995) Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy. Springer Press, New York.
13. 李銀安,受控熱核融合,1996,牛頓出版社.
14. D. B. Williams and C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Plenum, New York and London.
15. Y. Y. Yang, R.F. Egerton, Micron, 26,1(1995)
16. R. Brydson, Electron Energy Loss Spectroscopy, BIOS, UK (2001).
17. R. F. Egerton and M. J. Whelab, J. Electron. Spectrosc., 3:232 (1974a)
18. R. F. Egerton and M. J. Whelab, Philos. Mag., 30:739 (1974b)
19. S. D. Beger, D. R. Mckenzie and P. J. Martin, Philos. Mag. Lett., 57:285 (1988)
20. M. K. Kundmann, Gatan Imaging and Analysis School.
21. H. Shuman, C. F. Chang and A. P. Somlyo, Ultramicorsc., 19:121 (1986)
22. P. A. Crozier, Ultramicorsc., 58:157 (1995)
23. J. Bentkey, E. L. Hall and E. A. Kenik, Proc. Microscopy and Microanalysis, 268 (1995)
24. F. Hofer, W. Grogger, G. Kothleitnrt and P. Warbichler, Ultramicrosc., 67:83 (1997)
25. J. Mayer, U. Eigenthaler, J. M. Plitzko, and F. Dettenwanger, Micron, 5: 361 (1997)
26. F. Hofer and P. Warbichler, Ultramucrosc., 63:21 (1996)
27. N. Bonnet, C. Coliex, C. Mory and M. Tence, Scanning Microscopy 2(Suppl.), 351 (1988)
28. A. Berger, J. Mayer and H. Kohl, Ultramicrosc., 55:101 (1994)
29. D. H. Pearson, C. C. Ahn and B. Fultz, Phys. Rev. B, 47(12), 8471 (1993).
30. T. I. Morrison, M. B. Brodsky, N.J. Zaluzec and L. R. Sill, Phys. Rev. B, 32(5), 3107 (1985).
31. P. A. van Aken and B. Liebscher, Phys. Chem. Minerals, 29, 188 (2002).
32. R. Brydson, H. Sauer and W. Engle, ELNES as an analytical tool- the study of minerals. In: Transmission Electron Energy Loss Spectroscopy in Materials Science, TMS, Warrendale, Pennsylvania (1992).
33. J. Veldkamp, Physica, 2, 25 (1935).
34. Z. L. Wang, J. S. Yin, J. Z. Zhang and W. D. Mo, J. Phys. Chem. B, 101, 6793 (1997).
35. R. D. Leapman and L. A. Grunes, Phys. Rev. Lett., 45, 397 (1980).
36. J.C.H. Spence (2003) High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, New York.
37. R. H. Richie and A. Howie, phil. Mag. 36, 463 (1977).
38. Satoru Tanaka, Introduction to Fusion Reactor Engineering, 2001.
39. Y. Katoh, A. Kohyama, K. Morishita, A. Kimura, Introduction to Fusion Reactor Engineering, 2001.
40. G.R. Hopkins, R.J. Price, Nucl. Eng. Des.Fusion, 2, 111 (1985).
41. Hiroshi Araki, Hiroshi Suzuki, Wen Yang, Shinji Sato, Tetsuji Noda, J. Nucl. Mater. 258-263, 1540 (1998).
42. T. Hinoki, W. Zhang, A. Kohyama, S. Sato, T. Noda, J. Nucl. Mater. 258-263, 1567 (1998).
43. L. L. Snead, R. H. Jones, A. Kohyama, P. Fenici, J. Nucl. Mater. 233-237, 26 (1996).
44. R. H. Jones, D. Steiner, H. L. Heinisch, G. A. Newsome, H. M Kerch, J. Nucl. Mater. 245, 87 (1997).
45. T. S. Duh, K.M. Yin , J.Y. Yan , P.C. Fang , C.W. Chen ,J.J. Kai, F.R. Chen , Y. Katoh , A. Kohyama, J. Nucl. Mater. 329-333, 518 (2004).
46. H. T. Keng, S. W. Li, S. W. Wu, J. J. Kai, F. R. Chen, Y. Katoh, A. Kohyama, J. Nucl. Mater. 367-370, 753 (2007).
47. S. Nogami, A. Hasegawa, K. Abe, T. Taguchi, R. Yamada, J. Nucl. Mater. 283-287, 268 (2000).
48. T. Taguchi, N. Igawa, S. Miwa, E. Wakai, S. Jitsukawa, L.L. Snead, A. Hasegawa, J. Nucl. Mater. 335, 508 (2004).
49. A. A. Lucas,J. P. Vigneron, S. E. Donnelly, J. C. Rife, Phys. Rev. B 28, 2485 (1983).
50. C. A. Walsh, J. Yuan, L. M. Brown, Philo. Mag. 80, 1507 (2000).
51. Weston M. Stacey, Jr. Fusion, “An Introduction to the Physics and Technology of Magnetic Confinement Fusion”, 1984, A Wiley-Interscience publication.
52. C. Jeanguillaume and C. Colliex, Ultramicroscopy, 78, 252 (1989).
53. C. Jeanguillaume, Trebbia P, and C. Colliex, Ultramicroscopy 3, 237 (1978)
54. K. Singhal and J. Wlach, Proc. IEEE. 1558. (1972)
55. D. Fraser, IEEE. Trans. Acoust., Speech, Signal Processing. 37(5), 665 (1989)
56. S. F. Gull and G. J. Daniell, Nature. 272, 686 (1978)
57. N. Agmon, Y. Alhassid and R. D. Levine, J. Comp. Phys., 30, 250 (1979)
58. R. Wilczek and S. Drapatz, Astron. Astrophys., 142, 9 (1985)
59. M. H. F. Overwijk and D. Reefman, Micron. 31, 325 (2000)
60. F. R. Chen, J. J. Kai, L. Chang, J. Y. Wang and W. J. Chen, J. Elec. Microsc. 48(6), 827 (1999)
61. F. R. Chen, H. Ichnose, J. J. Kai and L. Chang, J. Elec. Microsc. 50, 529 (2001)
62. R. F. Egerton and P. A. Crozier, Micron, 28, 117 (1997).
63. R. F. Egerton, Micron, 34, 127 (2003).
64. D. A. Muller and J. Silcox, Ultramicroscopy, 59, 195 (1995).
65. O. L. Krivanek, M. K. Kundmann and K. Kimoto, J. Microscopy, 180, 277 (1995).
66. 顏精一 博士論文 “高解析能量過濾電鏡分析奈米材料系統電子組態及結構之變化” 清華大學 工程與系統科學系 (2004)
67. Z. L. Wang, J. Bentley and N. D. Evans, Micron, 31, 355 (2000)
68. M. Schowalter, J. T. Titantah and D. Lamoen, App. Phys. Lett. 86, 112102 (2005).
69. M. Wanner, D. Bach, D. Gerthsen, R. Werner and B. Tesche, Ultramicroscopy 106, 341 (2006).
70. L. Reimer (1997) Transmission Electron Microscope. Springer Press, New York.
71. G. Radi, Acta crystallogr. A 26, 41 (1970).
72. P. Buseck, J. Cowley, L. Eyring (1992) High-Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques. Oxford University Press, New York.
73. A. Harscher and H. Lichte, proc Int Conf Electron Microsc ICEM 14(1), 553 (1998).
74. M. Togo, S. Kimura and T. Mogami, IEEE Transactions on Electron Devices, 49 (7), 1165 (2002).
75. A. Barranco F. Yubero and J. P. Espinós P. Groening A. R. González-Elipe Journal of Applied Physics, 97, 113714 (2005).
76. 曾子懷，碩士論文 ”Hi-Nicalon Type-S纖維碳化矽複合材料應用於核融合Tokamak結構材料輻射效應之研究”，國立清華大學工程與系統科學研究所(2005).
77. 李尚偉，碩士論文 ”Hi-Nicalon Type-S碳化矽複合材料之三射束輻射效應研究”，國立清華大學工程與系統科學研究所碩士論文(2006).
78. A. Hasegawa, S. Miwa, S. Nogami, A. Taniguchi, T. Taguchi, K. Abe, J. Nucl. Mater, 329–333, 582 (2004).
79. K. Hojou, S. Furuno, K.N. Kushita, H. Otsu, K. Izui, Nucl. Instr. and Meth. Phys. Res. B 91, 534 (1994).
80. P. Jung, J. Nucl. Mater, 191-194, 377 (1992).
81. G. A. Esteban, A. Perujo, F. Legarda, L.A. Sedano, B. Riccardi, J. Nucl. Mater, 307-311, 1430 (2002).
82. K. Hojou, S. Furuno, K. N. Kushita, N. Sasajima, K. Izui, Nucl. Instr. Meth. 141, 148 (1998).
83. K. Hojou, S. Furuno, T. Soga, K. Izui, J. Nucl. Mater. 179-181, 411 (1991).
84. K. Hojou, S. Furuno, K. N. Kushita, H. Otsu, Y. Furuya, K. Izui, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B 116, 382 (1996).
85. H. Ryssel, I. Ruge (1986) Ion Implantation (Wiley, Chichester)
86. Y. Pramono, K. Sasaki, T. Yano, J. Nucl. Sci. Tech. 41, 751 (2004).
87. H. Trikaus, Radiat. Effects 78, 189 (1983).