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| 研究生： |
彭文彥 Wen-Yan Pen |
|---|---|
| 論文名稱： |
原子力顯微鏡與X光反射率量測表面粗糙度之研究 A Comparison between Atomic Force Microscopy and X-ray Reflectivity on Characterization of Surface Roughness |
| 指導教授： |
李志浩
Chih-Hao Lee 陳福榮 Fu-Rong Chen |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
原子科學院 - 工程與系統科學系 Department of Engineering and System Science |
| 論文出版年： | 2002 |
| 畢業學年度： | 91 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 67 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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