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研究生: 趙羿潔
Chao, Yi-Jie
論文名稱: CMOS前端製程中電漿感應充電效應之研究
A Study of Plasma Induced Charging Effect in CMOS FinFET FEOL Processes
指導教授: 金雅琴
King, Ya-Chin
口試委員: 林崇榮
Lin, Chung-Jung
施教仁
Shih, Chiao-Jen
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 電子工程研究所
Institute of Electronics Engineering
論文出版年: 2021
畢業學年度: 109
語文別: 中文
論文頁數: 75
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  • 無法下載圖示 全文公開日期 2026/09/22 (校內網路)
    全文公開日期 2026/09/22 (校外網路)

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