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| 研究生： |
簡岳盈 Jian, Yue-Ying |
|---|---|
| 論文名稱： |
紫式決策架構建立自動缺陷辨識與診斷系統於晶圓瑕疵檢測：3DIC/WLCSP封裝檢測製程之實證研究 UNISON Auto Defects Classification Framework To Empower Diagnostic System On Wafer Inspection:An Empirical Study Of 3DIC/WLCSP Wafer Inspection Process |
| 指導教授： |
簡禎富
Chien, Chen-Fu 馬綱廷 Ma, Kang-Ting |
| 口試委員: |
周哲維
Chou, Che-Wei 鄭家年 Zheng, Jia-Nian |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
教務處 - 智慧製造跨院高階主管碩士在職學位學程 AIMS Fellows |
| 論文出版年： | 2022 |
| 畢業學年度： | 110 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 43 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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全文公開日期 2027/08/18 (校內網路)全文公開日期 2027/08/18 (校外網路)