簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
陳姿瑾 Chen, Tzu Chin |
|---|---|
| 論文名稱： |
應用資料探勘技術於TFT-LCD面板邊框不均勻缺陷之偵測 Applying Data Mining Techniques for the Detection of TFT-LCD Frame Mura Defects |
| 指導教授： |
蘇朝墩
Su, Chao Ton |
| 口試委員: |
陳穆臻
蕭宇翔 |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 工業工程與工程管理學系 Department of Industrial Engineering and Engineering Management |
| 論文出版年： | 2016 |
| 畢業學年度： | 104 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 59 |
| 相關次數： | 點閱：1 下載：0 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館：臺灣博碩士論文系統)